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多通道電流矩陣模塊鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺(tái)測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測試系統(tǒng) 電滯回線

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：

瀏覽量：2947

鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測試系統(tǒng) 電滯回線，廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測試系統(tǒng)。為研究壓電陶瓷材料/鐵電材料測試設(shè)備。
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Huace FE-2000壓電陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電

更新時(shí)間：2025-04-11

型號(hào)：Huace FE-2000

瀏覽量：2744

壓電陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。
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HCDH-4電氣絕緣材料測試耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-31

型號(hào)：HCDH-4

瀏覽量：2330

電氣絕緣材料測試耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。
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HCAM-10KV高壓功率放大器/壓電驅(qū)動(dòng)

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：HCAM-10KV

瀏覽量：2449

高壓功率放大器/壓電驅(qū)動(dòng) 是一款高速、高壓放大器，全固態(tài)的設(shè)計(jì)使其具有高轉(zhuǎn)換速率、寬脈寬以及低紋波的優(yōu)勢(shì)。最大輸出電流20mA,最大測試頻率5KHz，整機(jī)采用全固態(tài)的設(shè)計(jì)，其具有高轉(zhuǎn)換速率，同時(shí)具有安全的保護(hù)系統(tǒng)，優(yōu)秀的保護(hù)與電壓穩(wěn)定輸出，配合信號(hào)源可以也可以作為一臺(tái)高電壓擊穿或高壓極化電源進(jìn)行功能材料電學(xué)測試。
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華測儀器HC-PAX多通道電流矩陣模塊

更新時(shí)間：2025-08-18

型號(hào)：

瀏覽量：166

華測儀器HC-PAX多通道電流矩陣模塊是一種模塊化、高密度的電流控制解決方案，支持獨(dú)立控制多路電流通道（典型8~128通道），可同時(shí)輸出/吸入精確可調(diào)的直流電流。
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HCDH-4過壓過流三重防護(hù) 高分子材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2025-08-18

型號(hào)：HCDH-4

瀏覽量：155

過壓過流三重防護(hù) 高分子材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)作為一種專門用于檢測電氣設(shè)備耐電弧性能的儀器，已經(jīng)成為了電氣設(shè)備安全性能檢測的重要工具之一。主要通過模擬電氣設(shè)備在實(shí)際運(yùn)行過程中可能遇到的電弧現(xiàn)象，對(duì)電氣設(shè)備的絕緣材料進(jìn)行耐電弧性能測試。
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HCDJC -100KVGB/T1408電壓擊穿儀，化工絕緣強(qiáng)度測試

更新時(shí)間：2025-08-18

型號(hào)：HCDJC -100KV

瀏覽量：208

GB/T1408電壓擊穿儀，化工絕緣強(qiáng)度測試大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于電弧放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測獨(dú)立開發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的絕對(duì)防護(hù)。
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塞貝克系數(shù)電阻測試儀用于高校熱電效應(yīng)研究

更新時(shí)間：2025-08-18

型號(hào)：

瀏覽量：327

華測儀器的HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀用于高校熱電效應(yīng)研究，可以同時(shí)測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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