半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測試的重要設(shè)備--探針臺(tái)

探針臺(tái)是一種用于對半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測試的重要設(shè)備。以下是關(guān)于探針臺(tái)的詳細(xì)介紹：

1. 工作原理：

- 探針臺(tái)基于電子在材料中的散射現(xiàn)象工作。它由一對探針組成，一個(gè)探針充當(dāng)電子源，通過發(fā)射出電子，以恒定電流產(chǎn)生電子束；另一個(gè)探針用于接收并測量當(dāng)電子束與材料相互作用后被散射的電子。通過對散射電子的測量，可以了解材料的電子性質(zhì)，如導(dǎo)電性能、帶結(jié)構(gòu)等。并且在不同位置進(jìn)行測量可創(chuàng)建材料的電子映像，獲得整個(gè)材料的電子性質(zhì)分布圖像，進(jìn)而了解材料的表面形貌、晶格結(jié)構(gòu)等。

2. 構(gòu)成部分：

- 載物臺(tái)：用于承載和固定待測的半導(dǎo)體芯片、晶圓片或其他微電子器件，保證在測試過程中樣品的穩(wěn)定性。

- 光學(xué)元件：通常包括顯微鏡等光學(xué)設(shè)備，用于觀察和對準(zhǔn)樣品與探針，以便精確地將探針接觸到待測器件的特定位置。

- 卡盤：用于固定晶圓或芯片，確保其在測試過程中不會(huì)移動(dòng)或晃動(dòng)，卡盤的精度和穩(wěn)定性對測試結(jié)果有重要影響。

- 探針卡：上面安裝有多個(gè)探針，探針的材質(zhì)和形狀根據(jù)不同的測試需求選擇，探針卡與待測器件上的焊點(diǎn)或電極接觸，實(shí)現(xiàn)電信號(hào)的傳輸。

- 探針夾具及電纜組件：用于固定探針并連接到測試儀器，將探針采集到的電信號(hào)傳輸?shù)綔y試設(shè)備進(jìn)行分析和處理。

- 操縱器：可以精確地控制探針的移動(dòng)和定位，以實(shí)現(xiàn)與待測器件的準(zhǔn)確接觸。

3. 分類：

- 按操作方式分：

- 手動(dòng)探針臺(tái)：晶圓載物臺(tái)、顯微鏡以及定位器等都是由使用者手動(dòng)移動(dòng)。操作簡單、價(jià)格低，適合待測器件少或數(shù)據(jù)收集不多的情況，常用于研發(fā)階段。

- 半自動(dòng)探針臺(tái)：具備一定的自動(dòng)化功能，但仍需要人工參與部分操作，例如在探針與樣品的對準(zhǔn)過程中可能需要人工輔助調(diào)整。相比手動(dòng)探針臺(tái)，測試效率有所提高。

- 全自動(dòng)探針臺(tái)：添加了晶圓材料處理、搬運(yùn)單元和模式識(shí)別（自動(dòng)對準(zhǔn)）等功能，能夠自動(dòng)完成晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測試。速度快、精準(zhǔn)穩(wěn)定，可24小時(shí)連續(xù)工作，主要用于芯片量產(chǎn)測試或有特殊要求的測試場景。

- 按功能分：

- 常溫探針臺(tái)：在常溫環(huán)境下進(jìn)行測試，適用于對溫度變化不敏感的器件測試。

- 高溫探針臺(tái)：可在較高溫度下進(jìn)行測試，用于研究器件在高溫條件下的性能和可靠性，例如一些高溫工作的電子元件或需要在高溫環(huán)境下進(jìn)行老化測試的器件。

- 高低溫探針臺(tái)：能夠在不同的溫度條件下進(jìn)行測試，溫度范圍通常覆蓋較廣，可以根據(jù)測試需求設(shè)定不同的溫度點(diǎn)，對于研究器件在不同溫度下的性能變化非常有用。

- 霍爾效應(yīng)探針臺(tái)：專門用于測量半導(dǎo)體材料的霍爾效應(yīng)，通過測量霍爾電壓等參數(shù)來分析材料的電學(xué)性質(zhì)，如載流子濃度、遷移率等。

- 表面電阻率探針臺(tái)：用于測量材料的表面電阻率，對于研究材料的導(dǎo)電性能和表面特性具有重要意義。

4. 應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。具體包括芯片的研發(fā)、生產(chǎn)過程中的質(zhì)量檢測、封裝后的性能測試等環(huán)節(jié)，對于保證半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和性能具有關(guān)鍵作用。

    北京華測試驗(yàn)儀器有限公司專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)不同規(guī)格型號(hào)探針臺(tái)。