表面體積電阻率的儀器特點(diǎn)

華測(cè)-表面體積電阻率測(cè)試儀可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。并且采用了集成電路技術(shù)。無需改變形狀，可以直接測(cè)量片狀、薄膜、板狀的產(chǎn)品以及材料、防靜電板材。測(cè)量精度達(dá)到 3%。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便。

華測(cè)-表面體積電阻率測(cè)試儀的主要特點(diǎn)：

1、采用飛安電流處理芯片；

2、可使用皮安電流表，也可以外加高電壓的直流源；

3、具有自動(dòng)計(jì)算絕緣電阻、體積、表面電阻率功能、溫度、濕度在線檢測(cè)；

4、采用屏蔽環(huán)技術(shù)、真正屏蔽不屬于測(cè)試材料的泄露電流（華測(cè)高阻計(jì)的測(cè)試數(shù)據(jù)和的設(shè)備具有可比性）；

5、測(cè)試過程只需選擇電壓量程即可開始試驗(yàn)，無需人員再手動(dòng)切換電流檔（儀器本身具有尋檔技術(shù)）。