華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀

   華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。

   雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。

    采用開(kāi)發(fā)電子護(hù)系統(tǒng)，設(shè)備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。

   系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

   高度的輸出與測(cè)量規(guī)格，保障檢測(cè)結(jié)果的，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的測(cè)試。

   針對(duì)高溫四探針測(cè)試儀做了多項(xiàng)設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中有過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的；資料保存機(jī)制：當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)所新開(kāi)啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。